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  • 設(shè)備更新|粉末原子層沉積(PALD):科研平臺建設(shè)“新質(zhì)生產(chǎn)力”隨著對科技創(chuàng)新的不斷重視和投入,新一輪的大規(guī)模設(shè)備以舊換政策為廣大高校和研究機(jī)構(gòu)帶來了發(fā)展機(jī)遇。高質(zhì)量的科研平臺建設(shè)是提升研究水平、增強(qiáng)競爭力的關(guān)鍵。ForgeNano的新型粉...

  • 掃描電鏡拍攝技巧|如何避免掃描電鏡觀察過程中碳沉積現(xiàn)象在使用掃描電鏡進(jìn)行樣品觀察時(shí),尤其是采用二次電子模式,隨著觀察時(shí)間的延長,在觀察的區(qū)域會出現(xiàn)一塊黑的矩形的區(qū)域。如下圖所示,對一塊空白的鋁制樣品臺進(jìn)行觀察時(shí),一段時(shí)間后降低放大倍數(shù),發(fā)現(xiàn)...

  • 設(shè)備更新|掃描電鏡SEM&透射電鏡TEM離子束制樣設(shè)備2024年3月1日,《推動大規(guī)模設(shè)備更新和消費(fèi)品以舊換新行動方案》經(jīng)審議通過。會議指出,推動新一輪大規(guī)模設(shè)備更新和消費(fèi)品以舊換新,是著眼于我國高質(zhì)量發(fā)展大局作出的重大決策。同時(shí)指出,新一...

  • 掃描電鏡制樣:保證掃描電鏡樣品清潔有多重要?掃描電鏡(SEM)主要用于微觀形貌分析,其測試結(jié)果的好壞,一方面是由儀器的性能、測試條件和操作人員水平?jīng)Q定,另一方面還與樣品制備過程有關(guān)。掃描電鏡(SEM)樣品需要保持清潔、無污染物,盡量把污染程...

  • 在上篇文章中,我們介紹了原子層沉積(ALD)方法包覆電極材料的必要性以及粉末涂層(PC)和極片涂層(DC)兩種不同的改性策略。(詳見:原子層沉積(ALD)技術(shù)在鋰電材料中的應(yīng)用(一):電極粉末包覆的必要性(上))ALD方法對于電極材料的改善...

  • 引言使用FIB切削獲得超薄樣片(lamella),是一種常見的塊體材料TEM制樣方法。然而,鎵離子束輻照損傷所帶來的非晶層卻像一片難以驅(qū)散的迷霧,阻礙著人們獲得更高質(zhì)量的TEM照片,進(jìn)而也限制了對輕元素的量化分析??梢赃x擇離子精修儀對FIB...

  • 納米印刷沉積:助力納米技術(shù)發(fā)展,引發(fā)納米能源領(lǐng)域革命性變革絕緣、傳導(dǎo)、反射、保溫、耐磨和防銹等材料及其特性在日常生活中發(fā)揮著重要作用,科學(xué)家們正在不斷努力改善材料的特性以制造出具備更優(yōu)性能的產(chǎn)品。更好的隔熱效果可以降低供暖成本;更好的傳導(dǎo)導(dǎo)...

  • 應(yīng)用分享:DENS原位透射電鏡熱電樣品桿助力固態(tài)氧化物燃料電池研究通過在環(huán)境透射電鏡中使用DENSLightning原位熱電樣品桿,新加坡南洋理工大學(xué)的MartialDuchamp博士和他的合作者以原子級分辨率觀察了固態(tài)氧化物燃料電池的工作...

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