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臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 電子顯微鏡

臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 電子顯微鏡

簡(jiǎn)要描述:全新的易于學(xué)習(xí)的界面可幫助您快速掌握新信息,是各種應(yīng)用的理想選擇。Phenom XL G2 臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版升級(jí)為全面屏成像,平均成像時(shí)間僅為 40 秒,比市場(chǎng)上其他臺(tái)式電鏡的速度快 5 倍之多。系統(tǒng)可對(duì) 100 x 100mm 的樣品進(jìn)行分析,8nm 的分辨率為分析提供更多的細(xì)節(jié)。

產(chǎn)品型號(hào): Phenom XL G2

所屬分類:臺(tái)式掃描電鏡

更新時(shí)間:2024-06-24

廠商性質(zhì):其他

詳情介紹
品牌其他品牌產(chǎn)地進(jìn)口
產(chǎn)品新舊全新放大倍率200,000x
分辨率8nm加速電壓4.8kV-20.5kV

全新的易于學(xué)習(xí)的界面可幫助您快速掌握信息,是各種應(yīng)用的理想選擇。Phenom XL G2 臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版升級(jí)為全面屏成像,平均成像時(shí)間僅為 40 秒,比市場(chǎng)上其他臺(tái)式電鏡的速度快 5 倍之多。系統(tǒng)可對(duì) 100 x 100mm 的樣品進(jìn)行分析,8nm 的分辨率為分析提供更多的細(xì)節(jié)。

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Phenom XL G2 標(biāo)配四分割背散射電子探頭(BSD),提供高品質(zhì)圖像及成分襯度信息。Phenom XL G2 可選配另外兩種探測(cè)器。一種是*集成的能譜儀(即 EDS),可進(jìn)行元素分析。另外一種是二次電子探測(cè)器(SED),可觀察樣品表面微觀細(xì)節(jié)。此外,還可以選配 ProSuite 應(yīng)用拓展平臺(tái)。配備 ProSuite 軟件后,可以使用顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)、孔徑統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)、纖維統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)、3D 粗糙度重建系統(tǒng)等軟件進(jìn)一步分析樣品。

 

臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL G2 參數(shù) 

光學(xué)顯微鏡:放大 3-19 倍

電子顯微鏡:200,000 倍

探測(cè)器:高靈敏度四分割背散射電子探測(cè)器

燈絲材料:1,500 小時(shí) CeB6 燈絲

分辨率:優(yōu)于 8 nm

放置環(huán)境:采用專業(yè)防震設(shè)計(jì),可擺放于普通實(shí)驗(yàn)室或辦公室、廠房

加速電壓:4.8kV-20.5kV 連續(xù)可調(diào)

抽真空時(shí)間:小于 40 秒

樣品尺寸:zui大 100 mm x 100 mm (可容納 36 個(gè)直徑 12 mm 的樣品臺(tái))

 

復(fù)納科學(xué)儀器 (上海) 有限公司 (Phenom Scientific),負(fù)責(zé)飛納臺(tái)式掃描電鏡在中國(guó)市場(chǎng)的推廣和銷售,提供專業(yè)的和測(cè)試服務(wù),飛納中國(guó)擁有專業(yè)的服務(wù)團(tuán)隊(duì),提供優(yōu)化的解決方案;飛納電鏡在上海、北京、廣州設(shè)立了測(cè)試中心和售后服務(wù)中心,目前飛納在中國(guó)已經(jīng)擁有超過 1000 名用戶。

 

 

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